心脏安全性评价是各类新药进入临床试验前必须调查的一个沉要的成分，也是创新药早期临床钻研中最沉要且难度较高的环节之一。心脏的QT间期是指从QRS波群起头到T波实现的一段功夫，蕴含心室去极化和复极化的过程，QT间期被以为是新药安全性评价的关键指标之一。在心肌细胞中，hERG(human Ether-a-go-go Related Gene)编码的钾通路介导一种延长整流钾电流(IKr)，IKr抑造是药物导致QT间期耽搁的沉要机造。hERG可被结构多样化的化合物抑造，其职能的缺失或药物抑造城市影响心脏作为电位复极过程并会引起QT间期耽搁，同时可诱发尖端旋转型室性心动过速，导致心律变态。

随着钻研的不休深刻，hERG抑造的安全性评价技术也日趋成熟，目前市场上已经有了好多成熟的评价伎俩，如全自动膜片钳技术(Automated Patch-Clamp)，传统膜片钳技术(ConventionalPatch-Clamp) 和FluxORTM Thallium Assay。

膜片钳(Patch Clamp)的根基道理是利用尖端直径0.5-1um的玻璃电极吸附到细胞膜表表，通过负压吸引使电极尖端和细胞膜形成缜密封接，使与电极尖开中处相接的细胞膜幼片区域(patch) 与其周围在电学上绝缘，  在此基础上固定膜电位(clamp)，而后对电极尖端下面积仅为几平方微米的细胞膜片上一个或几个离子通路的电流进行纪录。从而将电生理学技术提高到纪录和钻研单个蛋白质的分子水平。

膜片钳技术目前已经被宽泛利用于与药物作用有关的心肌离子通路钻延注单细胞状态与职能关系的钻研，药物作用机造、心血管药理钻研及创新药物钻研与高通量筛选等方面。

JDB电子引进HEKA膜片钳系统（Patch Clamp System），该系统为放大器与数模转换器一体，可通过软件与手动操作相结合，达到比全自动更精准的水平，将会大大加强JDB电子体表药物安全性评价服务。

JDB电子药物安全评价中心由一批经验丰硕的专业科研团队组成，成立了切合国际尺度的药物安全评价系统，尝试钻研遵循ICH、CFDA、FDA和OECD领导准则，可提供高质量的数据、急剧的钻研周期的药物临床前安全性评价服务，JDB电子通过节造成本、高效的服务，援手客户缩短尝试功夫，降低新药钻研和开发成本。自2012年至今，JDB电子已经成功地援手近50家客户向CFDA, FDA和TGA递交切合新药注册要求的申报资料，已接受并通过100屡次核查。